高壓加速老化試驗(yàn)箱中UHAST與BHAST的區(qū)別
高壓加速老化試驗(yàn)箱中UHAST與BHAST的區(qū)別
高度加速的溫度和濕度壓力測試（HAST）是一個(gè)高度加速，以溫度和濕度為基礎(chǔ)的電子元件可靠性試驗(yàn)方法。HAST高加速老化試驗(yàn)在塑封器件中起到舉足輕重的作用，以溫度和濕度為基礎(chǔ)加速新式集成電路的失效，加快塑封器件的發(fā)展應(yīng)用。
高速老化壽命試驗(yàn)箱
其中HAST高加速老化試驗(yàn)分為UHAST試驗(yàn)和BHAST試驗(yàn)，這兩者有什么區(qū)別呢？接下來，科明將為您一一解答。
UHAST和BHAST的區(qū)別：
UHAST試驗(yàn)：指的是溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力測試，其用于確定高溫高濕條件下的器件可靠性，不會(huì)對(duì)器件施加偏壓。
參考標(biāo)準(zhǔn)：JESD22-A118
BHAST試驗(yàn)：指的是溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測試，讓器件經(jīng)受高溫高濕條件，同時(shí)處于偏壓之下，其目標(biāo)是讓器件加速腐蝕。
參考標(biāo)準(zhǔn)：JESD22-A110
UHAST和BHAST的測試條件：
溫度、濕度、氣壓、測試時(shí)間--
◎ 130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時(shí)間。
◎ 測試過程中，建議調(diào)試階段監(jiān)控芯片殼溫、功耗數(shù)據(jù)推算芯片結(jié)溫，要保證結(jié)溫不能過 高，并在測試過程中定期記錄。結(jié)溫推算方法參考《HTOL測試技術(shù)規(guī)范》。
◎ 如果殼溫與環(huán)溫差值或者功耗滿足下表三種關(guān)系時(shí)，特別是當(dāng)殼溫與環(huán)溫差值超過 10℃時(shí)，需考慮周期性的電壓拉偏策略。
◎ 注意測試起始時(shí)間是從環(huán)境條件達(dá)到規(guī)定條件后開始計(jì)算；結(jié)束時(shí)間為開始降溫降壓操 作的時(shí)間點(diǎn)。
電壓拉偏--
UHAST測試不帶偏壓， 不需要關(guān)注以下原則；
BHAST需要帶偏壓 ，遵循以下原則：
◎ 所有電源上電，電壓：最大推薦操作范圍電壓。
◎ 芯片、材料功耗最?。〝?shù)字部分不翻轉(zhuǎn)、輸入晶振短接、其他降功耗方法）。
◎ 輸入管腳在輸入電壓允許范圍內(nèi)拉高。
◎ 其他管腳，如時(shí)鐘端、復(fù)位端、輸出管腳在輸出范圍內(nèi)隨機(jī)拉高或者拉低。
了解了UHAST試驗(yàn)和BHAST試驗(yàn)的區(qū)別后，希望能幫助各位客戶朋友在采購高加速應(yīng)力試驗(yàn)設(shè)備時(shí)，選擇更符合試驗(yàn)需求的試驗(yàn)設(shè)備，科明將為各位客戶朋友提供優(yōu)質(zhì)的環(huán)境模擬可靠性試驗(yàn)解決方案。
