半導(dǎo)體封裝和集成電路ESS環(huán)境應(yīng)力篩選快速熱循環(huán)試驗方案

半導(dǎo)體封裝和集成電路ESS環(huán)境應(yīng)力篩選快速熱循環(huán)試驗方案

可靠性試驗：指是對產(chǎn)品的可靠性進行調(diào)查、分析和評價的一種手段，達到的理想要求是（1）.篩選--發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計、材料和工藝的各種缺陷，避免有缺陷的產(chǎn)品留到消費者這里。（2）.增長--旨在為產(chǎn)品的可靠性設(shè)計改進、降低維修頻次提供信息，通過設(shè)計改進提高產(chǎn)品品質(zhì)或可靠性水平。（3）.鑒定--確認(rèn)是否符合可靠性定量要求。

可靠性試驗分類：一.工程試驗 a,應(yīng)力篩選（Burn in、ESS、Hass、Hasa ）b,可靠性增長（Rgt、Halt、Ret）。二.統(tǒng)計試驗 a,可靠性鑒定（Pqt、Alt）b,可靠性驗收（Ort、Periodic Retest）。

ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗：是通過向電子或機電產(chǎn)品施加合理的環(huán)境應(yīng)力（如溫循、隨機振動）或電應(yīng)力，將其內(nèi)部的潛在缺陷加速暴露出來的過程。是在電子產(chǎn)品施加隨機振動及溫度循環(huán)應(yīng)力，來鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期故障的一種測試方法。環(huán)境應(yīng)力篩選溫度循環(huán)主要是對印刷電路板組裝件、電子組件或整機上在研制階段和批生產(chǎn)初期的全部產(chǎn)品進行。

1、溫度循環(huán)試驗要求，對于無冷卻系統(tǒng)的試驗產(chǎn)品，在升溫和高溫保持 階段，試驗產(chǎn)品應(yīng)通電，在降溫及低溫保持階段，樣品應(yīng)斷電。對于有冷卻系統(tǒng)的試驗樣品，試驗時應(yīng)同時將冷卻介質(zhì)進行高低溫循環(huán)。高低溫溫度點的選擇一般選取的是產(chǎn)品工作的極限溫度。

溫度變化速率：根據(jù)產(chǎn)品實際使用場景，一般5℃/min,也有要求3℃/min、10℃/min、15℃/min。

溫度循環(huán)的次數(shù)及時間：在缺陷剔除試驗中，溫度循環(huán)為10次或12次，相應(yīng)的測試時間為40h,在無故障檢驗中則為10~12次或12~24次，時間為40~48小時。

2、環(huán)境應(yīng)力篩選的測試程序，先進行初始的產(chǎn)品性能檢測-缺陷剔除階段-無故障檢驗階段-最后的性能檢測

3、環(huán)境應(yīng)力篩選溫度循環(huán)試驗通過的判據(jù)，試驗過程中應(yīng)對試驗樣品進行功能監(jiān)測，在最長80小時內(nèi)只要連貫40小時溫度循環(huán)器件不出現(xiàn)故障，即可認(rèn)為產(chǎn)品通過了溫度循環(huán)應(yīng)力篩選，在最長15分鐘內(nèi)連續(xù)5分鐘內(nèi)不出現(xiàn)故障，則產(chǎn)品通過了隨機振動篩選。

4、參照試驗（方法）標(biāo)準(zhǔn)，GB/T 2423.1-2008(IEC68-2-1)試驗Ab:低溫試驗方法。GB/T 2423.2-2008(IEC68-2-2)試驗Bb:高溫試驗方法。 GB/T 2423.3-2008(IEC68-2-3)試驗Cab:恒定濕熱試驗方法。GB/T 2423.4-2008(IEC68-2—30)試驗Db:交變濕熱試驗方法。GJB360.8-2009(MIL-STD.202F)高溫壽命試驗。GJBl50.3-2009(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。GJBl50.4-2009(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。GJBl50.9-2009(MIL-STD-810D)濕熱試驗方法。

兼容的測試標(biāo)準(zhǔn)，IEC-60749-25：半導(dǎo)體器件——溫度循環(huán)。IEC-60068-2-14 Nb：環(huán)境測試——溫度變化。IEC-61747-5：液晶和固態(tài)顯示設(shè)備——環(huán)境、耐久性和機械測試方法。JESD22-A105-C：固態(tài)器件，測試質(zhì)量和可靠性——功率和溫度循環(huán)。SAE-J1211：汽車部件 - 電子設(shè)備設(shè)計的推薦環(huán)境實踐。IPC-9701：表面貼裝焊接附件的性能測試方法和資格要求。

關(guān)于科明

科明KOMEG始于1990年，全球數(shù)以千萬計客戶的信賴，公司主營產(chǎn)品有溫度（濕度）循環(huán)試驗箱、冷熱溫度沖擊箱、快速熱循環(huán)試驗箱(室)、ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗箱、氣候老化試驗箱、大型(步入式)環(huán)境試驗室等可靠性試驗設(shè)備。

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