半導體器件可靠性測試解決方案
2021-09-06 15:26:51
- 簡要說明 ：
- 科明（KOMEG）集成電路可靠性試驗方案，包含有線通信、消費電子、汽車電子、分立器件、光電器件、傳感器、半導體等試驗方法和各類試驗標準。
- 文件版本 ：
- 2021.09版
聲明：轉載請注明出處，本文檔提取碼1990。
科明KOMEG始于1990年，擁有30年+研發生產經驗，全球數以千萬計客戶的信賴，目前擁有適應各個行業的一系列設備供客戶選型。主營產品有有溫度（濕度）循環試驗箱、冷熱溫度沖擊箱、快速熱循環試驗箱(室)、ESS環境應力篩選試驗箱、氣候老化試驗箱、大型(步入式)環境試驗室等可靠性試驗設備。產品廣泛應用于電子器件、機電產品、材料能源、醫藥化工、汽車航天等領域。
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